Rigaku wint Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award met methode voor het inspecteren en meten van defecten in 3D-flashgeheugen
Rigaku wint Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award met methode voor het inspecteren en meten van defecten in 3D-flashgeheugen
- Niet-destructieve visualisering van structuren op nanoschaal gerealiseerd met gebruik van röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie -
TOKIO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna “Rigaku”) heeft de Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award (hierna “de Prijs”) gewonnen met een revolutionaire, niet-destructieve methode voor het detecteren van defecten in 3D-flashgeheugen. De inspectie- en meettechnologie (hierna "de Technologie") gebruikt een röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie.
De Prijs wordt toegekend aan het team dat het meest overtuigende werkstuk schrijft op het gebied van meting, inspectie en procescontrole op de conferenties van SPIE Advanced Lithography + Patterning.
Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.
Contacts
Perscontactpersoon:
Sawa Himeno
Head of Communications Dept., Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp
+81 90 6331 9843